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                  名稱:X射線衍射儀

                  品牌:

                  規格:

                  價格:

                  時間:2018/12/29 0:00:00


                  X射線衍射儀(X-ray diffractometer)功能應用: 
                  ■能夠精確地對金屬和非金屬多晶粉末樣品進行物相檢索分析、物相定量分析、晶胞參數計算和固溶體分析、微區測試。能夠進行原位電池的XRD數據采集。 設備包括長壽命X光管、X射線發生器、高精度測角儀、高精度樣品臺、X射線二維陣列探測器、計算機控制系統、數據測量和分析軟件。 
                  主要技術要求  
                  ■ 3.1 X射線光源與光管。 
                  ■ 3.1.1 X射線發生器: 
                  ■ 3.1.1.1最大輸出功率≥600W; 
                  1.1.2最大電壓≥40kV: 
                  ■ 1.1.3最大電流≥15mA。
                  ■ 3.1.2長壽命X射線光管:
                  ■ 3.1.2.1 Cu光管,標準尺寸設計;
                  ■ 電源電壓  :AC220V±15%,50Hz
                  ■3.1.2.3 X射線防護:X射線防護:安全連鎖機構、劑量優于國標,輻射量小于1?Sv/h。提供獨立的安全電路.  
                  主要技術要求  
                  ■3.2 測角儀 3.2.1測角儀為高精度渦輪蝸桿系統。  
                  ■3.2.2掃描方式:Theta /2 Theta測角儀,立式測角儀。 : 
                  ■3.2.4測角儀半徑:≥160 mm.  
                  3.2.5 最小步長:0.001?,角度重現性:0.002?。 
                  ■ 3.2.6 驅動方式:步進馬達.
                  ■ 3.3探測器 3.3.1二維陣列探測器:相對與常規點探測器強度提高150倍,靈敏度提高一個數量級。
                  ■ 3.3.2探測器面積:≥14×14mm,子通道256×256個
                  ■ 3.3.3最大計數:≥1×108 cps 3.3.4動態范圍:≥1×109 cps
                  ■3.3.5背景:<0.1 cps 3.3.6提供的半導體陣列探測適合小角和廣角測試,最低0.5度起測。 3.3.7 驗收精度:剛玉標樣現場檢測,全譜范圍內所有峰的角度偏差不超過±0.02度(20度到140度) 3.3.8可采用零維模式(點探測器),一維模式(陣列探測器)。 3.4 樣品臺 3.4.1標準粉末樣品架 3.5 儀器控制和數據采集系統: 3.5.1 計算機:不低于:Windows 10 64位旗艦版操作系統,酷睿雙核I5 3.2GHz以上, 4G以上內存,256G及以上硬盤. 3.6 儀器控制和數據采集軟件: 儀器控制和數據采集軟件: 物相分析軟件:物相檢索軟件,可編程定量分析。無標樣定量分析,無標晶粒尺寸分析。 3.7 售后技術服務 3.7.1免費進行設備安裝、調試和現場操作培訓,免費國內技術培訓。 3.7.2 廠家在國內有維修中心,有專職的維修工程師,有備品備件庫。在接到用戶維修請求后,4小時內做出維修響應,2個工作日內到達用戶現場。 3.8 整機質保一年。

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